1.薄膜厚度控制的重要性

    ①成品的厚度及厚度均勻性主要取決于復(fù)合前單層膜的厚度及均勻性，也就是說(shuō)控制好單層膜的厚度質(zhì)量是獲得合格成品厚度質(zhì)量的前提。

    ②薄膜的阻隔性與薄膜的厚度密切相關(guān)（一般與厚度成正比關(guān)系），均勻性好的薄膜能獲得均一穩(wěn)定的阻隔性。

    ③薄膜厚度均勻性直接影響薄膜的機(jī)械拉伸性能，厚度均勻性好的薄膜能獲得較好的印刷套印精度及復(fù)合質(zhì)量。薄膜拉伸性能檢測(cè)儀器：薄膜厚度測(cè)試儀，可獲得薄膜的機(jī)械拉伸性能。

    ④相同內(nèi)層材質(zhì)的復(fù)合膜，厚度偏高則起始溫度偏高，反之亦然。也就是說(shuō)，厚度均勻的復(fù)合膜較能獲得均一的封合質(zhì)量，避免局部熱封不良現(xiàn)象。

    ⑤多數(shù)客戶是按平方米作為交貨數(shù)據(jù)，將薄膜厚度控制在要求的范圍內(nèi)，可有效控制復(fù)合膜的加工成本。

    2.薄膜測(cè)厚儀介紹

    （1）螺旋測(cè)微器。

    ①螺旋測(cè)微器的結(jié)構(gòu)。

    螺旋測(cè)微器（又叫千分尺）是比游標(biāo)卡尺更精密的測(cè)量厚度的工具，用它測(cè)厚度可以準(zhǔn)確到0.01mm，測(cè)量范圍為幾個(gè)厘米。它主要由主尺和螺旋尺組成，其部分名稱及主要用途如下。

a．          主尺。用于讀取固定刻度所顯示的zui大毫米刻度數(shù)（包括0.5mm）。

b．          旋鈕。用于讀取主尺上固定刻度的水平線對(duì)應(yīng)的螺旋尺上可動(dòng)刻度的刻度（包括估讀）。

c．           旋鈕。用于緊固被測(cè)物。

d．          微調(diào)旋鈕。用于可動(dòng)尺的微調(diào)。

e．           測(cè)微螺桿。

f．            小砧。

    ②螺旋測(cè)微器的原理。

    螺旋測(cè)微器是依據(jù)螺旋放大的原理制成的，即螺桿在螺母中旋轉(zhuǎn)一周，螺桿便沿著旋轉(zhuǎn)軸線方向移動(dòng)的微小距離，就能用圓周上的讀數(shù)表示出來(lái)。螺旋測(cè)微器的精密螺紋的螺距是0.5mm，可動(dòng)刻度有50個(gè)等分刻度，可動(dòng)刻度旋轉(zhuǎn)一周，測(cè)微螺桿可前進(jìn)或后退0.5mm，因此旋轉(zhuǎn)每個(gè)小分度，相當(dāng)于測(cè)微螺桿前進(jìn)或后退0.5/50=0.01mm。可見(jiàn)，可動(dòng)刻度每一小分度表示0.01mm，所以螺旋測(cè)微器可準(zhǔn)確到0.01mm，由于還能再估讀一位，可讀到毫米的千分位，故又名千分尺。

    測(cè)量時(shí)，當(dāng)小砧和測(cè)微螺旋桿并攏時(shí)，可動(dòng)刻度的零點(diǎn)恰好與固定刻度的零點(diǎn)重合，旋出測(cè)微螺桿，并使小砧和測(cè)微螺桿的面正好接觸待測(cè)厚度的兩端，那么測(cè)微螺桿向右移動(dòng)的距離就是所測(cè)的厚度。這個(gè)距離的整毫米數(shù)由固定刻度上讀出，小數(shù)部分則由可動(dòng)刻度讀出。

    ③使用螺旋測(cè)微器應(yīng)注意一下幾點(diǎn)。

a．          測(cè)量時(shí)，在測(cè)微螺旋桿快靠近被測(cè)物體時(shí)應(yīng)停止使用旋鈕，而改用微調(diào)旋鈕，避免產(chǎn)生過(guò)大的壓力，既可使測(cè)量結(jié)果，又能保護(hù)螺旋測(cè)微器。

b．          在讀書時(shí)，要注意固定刻度尺上表示半毫米的刻線是否已經(jīng)露出。

c．           讀書時(shí)，千分位有一位估讀數(shù)字，不能隨便扔掉，即使固定刻度的零點(diǎn)正好與可動(dòng)刻度的某一刻度線對(duì)齊，千分位上也應(yīng)讀為“0”。

d．          當(dāng)小砧和測(cè)微螺旋桿并攏時(shí)，可動(dòng)刻度的零點(diǎn)與固定刻度的零點(diǎn)不相重合，將出現(xiàn)*，應(yīng)加以修正，即在zui后測(cè)厚度的讀數(shù)上去掉*的數(shù)值。

    另外，數(shù)顯式螺旋測(cè)微器讀數(shù)更快捷、準(zhǔn)確，還可實(shí)現(xiàn)任意位置重復(fù)0位，使用方便。

    （2）LPT-1S薄膜測(cè)厚儀

    技術(shù)指標(biāo)：

    測(cè)量范圍：0~1mm

    分度值：0.001mm

    綜合誤差：≤0.005mm

    上測(cè)頭：曲徑半徑為15~50mm

    下測(cè)頭：直徑6mm平面

    測(cè)頭符合：0.1~0.5N

    測(cè)量精度：100μm以內(nèi)＜1μm，100~250μm＜2μm，250μm＜3μm

    試驗(yàn)條件：標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)環(huán)境

    凈重：1.5kg

    （3）CHY-C2測(cè)厚儀

    技術(shù)指標(biāo)：

    常規(guī)測(cè)量范圍：0~2mm

    分辨率：0.1μm

    測(cè)量速度：10次/分（可調(diào)）

    測(cè)量壓力：（17.5±1）kPa（薄膜），（50±1）kPa（紙張）

    接觸面積：50mm²（薄膜），200mm²（紙張）

    電源：AC 220V 50Hz

    外形尺寸：300mm[L]×275mm[B]×300mm[H]

    注：賽成科技的薄膜厚度測(cè)試儀可對(duì)薄膜進(jìn)行多種物理性能測(cè)試，可選量程，測(cè)試。